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FormFactor发布Harmony晶圆级预烧探针卡
FormFactor发表Harmony全区12寸晶圆针测解决方案的最新成员——Harmony晶圆级预烧(Wafer-Level Burn-In,WLBI)探针卡。 Harmony WLBI探针卡能提高作业流量,并且确保半导体元件的品质与可靠度。 Harmony WLBI探针卡一次能接触约4万个测试焊垫,还能在高温(最高130℃)下测试整片12寸晶圆。
Harmony WLBI探针卡结合各种电子元件以及新型3DMEMS MicroSpring接触器,能承受高温的预烧测试,降低清理次数,提高探针卡的可用度以及测试元件的生产力。 FormFactor专利技术可以增加同时测试晶粒的数量,运用现有的测试设备资源。
Harmony WLBI是FormFactor确保合格裸晶(known good die,KGD)专属探针卡解决方案的一个重要元件,这类元件必须进行测试、确定符合规格后才能进行封装。确保合格裸晶的应用范例包括手机与便携式媒体播放器,这类产品会把多种元件整合至一个系统级封装(SiP)芯片或多芯片封装(MCP)。