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超高频芯片测试探针卡研发打破国外厂商垄断
作者:管理员    发布于:2015-08-07 17:10:01    文字:【】【】【
摘要:当前,我国超大规模和极大规模集成电路处于快速发展时期,随着集成电路技术从深亚微米向90-65-45纳米技术推进,大幅度提高芯片测试准确性和测试效率是集成电路生产中迫切需要解决的问题。本项目研发的超高速、超高频芯片测试探针卡是实现集成电路超高速、超高频芯片测试的重要环节,是实现高速、高效测试的重要保障

当前,我国超大规模和极大规模集成电路处于快速发展时期,随着集成电路技术从深亚微米向90-65-45纳米技术推进,大幅度提高芯片测试准确性和测试效率是集成电路生产中迫切需要解决的问题。本项目研发的超高速、超高频芯片测试探针卡是实现集成电路超高速、超高频芯片测试的重要环节,是实现高速、高效测试的重要保障。

同时,测试探针卡研究成果将冲破国外厂商对我国超高频芯片测试探针卡设计制作技术的垄断,为我国自主研制和生产超快速、超高频芯片测试探针卡开拓道路,为实现超高频芯片测试探针卡国产化研发及产业化打下坚实基础。

由于本项目研制出的成果切合我国集成电路产业发展的需要,具有很大的推广前景,与此同时,本单位将积极参与扩展超高频芯片测试探针卡产业化平台建设,发展壮大公司。

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